測角儀是用來測量晶體研究角度的儀器。不同類型的測角儀包括接觸式測角儀、電動測角儀、小型測角儀、反射測角儀、低溫測角儀等。測角儀用於測量各種裝置中的 SiC 晶體取向，包括功率元件、電子元件、半導體、加熱元件等。
ID ： IL_1092 | 語言： 英文/日文/法文/德文 | 出版商： 白細胞介素 | 格式 ：
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報告編號： IL_55 | 報告語言： 英文/日文/法文/德文 | 出版商： 白細胞介素
