探針卡可以描述為用於在半導體晶圓上執行晶圓測試的板或介面。積體電路在生產和運輸之前會使用探針卡測試電氣特性。使用探針卡執行的測試基本上分為三種，包括直流測試、交流測試和功能測試。
ID ： IL_1189 | 語言： 英文/日文/法文/德文 | 出版商： 白細胞介素 | 格式 ：
購買以閱讀完整報告
下載樣本報告
報告編號： IL_55 | 報告語言： 英文/日文/法文/德文 | 出版商： 白細胞介素
