Wielkość rynku urządzeń do optycznej inspekcji płytek (OPWIE) w latach 2023–2032

Optical Patterned Wafer Inspection Equipment (OPWIE) to rodzaj sprzętu inspekcyjnego używanego w procesie produkcji półprzewodników do wykrywania defektów w wzorzystych waflach. Wafle wzorzyste to wafle, które zostały przetworzone w celu utworzenia pożądanego wzoru obwodu. Defekty w wzorzystych waflach mogą prowadzić do wadliwego działania półprzewodników, dlatego ważne jest, aby wykryć je na wczesnym etapie procesu produkcyjnego. Systemy OPWIE wykorzystują techniki optyczne do obrazowania wzorzystego wafla i identyfikowania defektów. Najczęstszym typem systemu OPWIE jest system jasnego pola, który wykorzystuje białe źródło światła do oświetlenia wafla i kamerę do uchwycenia obrazu. Inne typy systemów OPWIE obejmują systemy ciemnego pola, które wykorzystują źródło oświetlenia ciemnego pola w celu zwiększenia kontrastu defektów, oraz systemy kontrastu fazowego, które wykorzystują źródło oświetlenia kontrastu fazowego w celu poprawy rozdzielczości obrazu.

Identyfikator: IL_1167 | Język: En/Jp/Fr/De | Wydawca: IL | Format :